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碳硅分析仪测量原理

更新时间:2012-10-08      点击次数:1259
    碳硅分析仪通过微处理器进行温度曲线的采集,利用凝固期间比电阻快速测量灰铸铁碳当量及共晶团数目。灰铸铁化学成份变化范围:3.7~4.8%CE,2.9~3.9%C,1.4~3.2%Si,0.3~0.9%。浇注后,铁水比电阻下降,凝固期间比电阻则显著增加,凝固完毕后,比电阻缓慢减少。
  碳当量越低,该升值△ρ_(max)越小,并有下列关系:CE=3.250.025△ρ_(max),碳当量每增0.1%,△ρ_(max)约增加4.0μΩ·cm。比电阻zui大升率或上升角θ也随着碳当量的增加而增加,并具有下述关系:CE=abθ,式中a、b为常数。铸铁比电阻zui大值越大,则共晶团数目越多,并且两者之间在生产条件下具有线性依属关系。测量过程于浇注后1~3分钟内完成。
  灰铸铁比电阻受金相显微组织(石墨片及共晶团)及化学成份制约。两种显微组织对比电阻的影响可以这样来看:电子被“挤”到共晶团边界,大部份电流沿石墨片表面及共晶团边界流过,因之,电流通道断面积减少,从而比电阻增加。通过铁水结晶法来测量计算碳硅成份及铁水品质。
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